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注：①本試驗(yàn)并非模仿運(yùn)行時(shí)的二次繞組開路狀態(tài)，只是為了表明其匝間絕 緣是否良好，因此對電流和電壓波形不作規(guī)定。二次繞組在運(yùn)行中開路，尤其是 匝數(shù)相當(dāng)多時(shí)，會(huì)引起危險(xiǎn)，必須避免。
�、趯︻~定電壓10kV及以下的互感器，允許采用抽試辦法。抽試臺數(shù)為同一 批產(chǎn)品的5%，但不少于10臺。首次抽試如有不合格時(shí)，應(yīng)加倍臺數(shù)第2次抽 試。如果第2次抽試全部合格，則僅返修首次抽試的不合格品；如果第2次抽試仍 有一臺不合格，則應(yīng)逐臺試驗(yàn)。
�、蹖Σ捎枚搪吩蜒a(bǔ)償?shù)幕ジ衅�，不進(jìn)行本試驗(yàn)。
1.5.6 介質(zhì)損耗率(tgδ)測量
介質(zhì)損耗率(tgδ)應(yīng)在額定頻率下用西林電橋或類似電橋測量。試驗(yàn)時(shí)環(huán)境溫 度和試品溫度應(yīng)為10～30℃。
測試電壓應(yīng)加在短接的一次繞組之出線端子上。通常以短接的諸二次繞組之 出線端子接測量電橋，金屬箱殼接地。如果互感器具有專用測量端子(如電容型絕 緣的地屏引出端子)，則以此端子接測量電橋，諸二次繞組皆應(yīng)短接與金屬箱殼連 在一起接地。
1.5.7 局部放電測量
局部放電測量按GB 5583-85的規(guī)定。
1.6 型式試驗(yàn)
當(dāng)制造廠持有同類型互感器某些項(xiàng)目的型式試驗(yàn)證書，并能為用戶所接受 時(shí)，該項(xiàng)型式試驗(yàn)可以不做。
1.6.1 溫升試驗(yàn)
溫升試驗(yàn)場所的環(huán)境溫度為10～40℃。試品周圍1～2m處不得有墻壁、 熱源和堆積雜物以及外來輻射、氣流等干擾。
測量環(huán)境溫度應(yīng)采用2～3個(gè)溫度計(jì)，其測溫端各浸于容積不小于1000mL 盛滿油的杯中，放置在試品周圍1～2m處，并位于試品高度的中點(diǎn)。當(dāng)試品高 度低于500mm時(shí)，須將試品墊高300～500mm。環(huán)境溫度應(yīng)以這些溫度計(jì)的平 均值為準(zhǔn)。確定溫升的環(huán)境溫度值取試驗(yàn)最后2h內(nèi)3次所測溫度的平均值。
試驗(yàn)時(shí)，被試互感器的狀態(tài)應(yīng)相當(dāng)于運(yùn)行狀態(tài)。連接一次出線端子的導(dǎo)線， 單根長度應(yīng)不小于1.5m，并須選取合適的截面，使在試驗(yàn)時(shí)導(dǎo)線距出線端子 0.75～1m處的溫升為40±3℃。各二次繞組接額定負(fù)荷或短接。
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