在可能條件下，首先應該測量斷層面的產(chǎn)狀（走向，傾向，傾角）。其次，要確定斷層兩盤相對位移的方向。如是，斷層的性質(zhì)（正、逆等）便可判斷了。確定兩盤相對位移方向的方法主要如下：
1.根據(jù)斷層面上的擦痕、階步和斷層兩側(cè)的拖拉褶皺判斷（前已述及）。
2.根據(jù)斷層兩盤巖層的新老對比判斷：
對于走向斷層或縱斷層來說，在斷層線上同一點，其較老巖層一側(cè)為上升盤，較新巖層一側(cè)為下降盤。但當斷層面傾向與巖層傾向一致，而斷層面傾角小于巖層傾角時，則較老巖層一側(cè)為下降盤，較新巖層一側(cè)為上升盤。
對于傾向斷層或等斜褶曲中的橫斷層來說，不論是在平面或剖面上，都不易判斷升降盤，必須借助其他小構造等來判斷。
3.根據(jù)褶曲核部或兩翼的寬窄變化判繼：
�。�1）如果是發(fā)育在背斜或向斜中的走向斷層或縱斷層，其一翼巖層經(jīng)常出現(xiàn)重復或缺失。
�。�2）如果是發(fā)生在背斜或向斜中的傾向斷層或橫斷層，則在斷層線兩側(cè)常表現(xiàn)為核部寬窄不同，即在背斜中，核部或兩側(cè)相當翼變寬的一盤為上升盤，變窄的一盤為下降盤在向斜中正好相反，核部或兩側(cè)相當翼變窄的一盤為上升盤，變寬的一盤為下降盤。
（3）如果是切過背斜或向斜的平推斷層，則核部及兩盤相當翼只有水平錯開，而無寬窄的變化，即兩側(cè)巖層或褶曲軸各向一個方向錯開。
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